รายละเอียดหนังสือ
|
การทดสอบและวิเคราะห์จุดเสียในวงจรอิเล็กทรอนิกส์
ผู้แต่ง : สุชัย ธนาสารตั้งเจริญ
สำนักพิมพ์ :
หมวด : 600 เทคโนโลยี(วิทยาศาสตร์ประยุกต์)
หมู่ : 621.3815
เลขเรียกหนังสือ : 621.3815 ช647ก
|
| เลขผู้แต่ง: | ช647ก |
|---|---|
| รายการเพิ่ม (บุคคล/หน่วยงาน): |
|
| สถานที่พิมพ์: | กรุงเทพมหานคร |
| ปีที่พิมพ์: | มปป. |
| จำนวนหน้า: | 0 |
| ลักษณะหนังสือ: | |
| ชื่อชุด: | |
| ราคาหน้าปก: | 100 |
| เลข ISBN: | |
| รายการโยง: | |
| วันที่วิเคราะห์: | |
| หมายเหตุ: |